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IK-TECHNOLOGIES 高分辨電子能量損失譜儀

簡(jiǎn)要描述:美國(guó) IK-TECHNOLOGIES 高分辨電子能量損失譜儀在分辨率和信號(hào)水平方面表的

  • 產(chǎn)品型號(hào):ELS5000
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時(shí)間:2024-08-17
  • 訪  問  量:319

詳細(xì)介紹

品牌其他品牌應(yīng)用領(lǐng)域化工,能源,電子,電氣,綜合

美國(guó) IK-TECHNOLOGIES 高分辨電子能量損失譜儀


HREELS高分辨電子能量損失譜儀在分辨率和信號(hào)水平方面表現(xiàn)的全球,現(xiàn)在結(jié)合我們的多通道分析儀選件(EA5000MCA),可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)采集速度。用于研究表面分子振動(dòng),表面聲子和等離子體以及電子能級(jí)和能帶隙。

圖片1.png

  • 超高分辨率0.5 meV FWHM

  • 在1.0 meV分辨率(FWHM)下保證探測(cè)器電流大于或等于10pA

  • 采用具有可控角度像差的新型靜電偏轉(zhuǎn)器

  • 具有菜單驅(qū)動(dòng)軟件的低噪聲數(shù)字控制電子設(shè)備

  • 用戶可選擇的掃描范圍高達(dá)50 eV,適用于電子振動(dòng)/電子應(yīng)用

products-els5000.jpg


  • EELS原理

當(dāng)入射電子束照射試樣表面時(shí),將會(huì)發(fā)生入射電子的背向散射現(xiàn)象,背向散射返回表面的電子由兩部分組成,一部分沒有發(fā)生能量損失,稱為彈性散射電子,另一部分有能量損失,稱為非彈性散射電子?!ぴ诜菑椥陨⑸潆娮又?,存在一些具有一定特征能量的俄歇電子,其特征能量只同物質(zhì)的元素有關(guān),如果在試樣上檢測(cè)這些俄歇電子的數(shù)目按能量分布,就可以標(biāo)定物質(zhì)的各元素組成,稱為俄歇電子能譜分析技術(shù)。

如果其特征能量不但同物質(zhì)的元素有關(guān),而且同入射電子的能量有關(guān),則稱它為特征能量損失電子。

如果在試樣上檢測(cè)能量損失電子的數(shù)目按能量分布,就可獲得一系列譜峰,稱為電子能量損失譜,利用這種特征能量電子損失譜進(jìn)行分析,稱為電子能量損失譜分析技術(shù)。

圖片2.png

EELS理論

對(duì)低能電子能量損失譜的解釋工作是建立在非彈性散射理論上。

如果入射電子從具有兩維周期性晶格結(jié)構(gòu)的表面散射回來(lái)時(shí)經(jīng)歷了—個(gè)非彈性散射過程,它將損失部分能量。

美國(guó) IK-TECHNOLOGIES 高分辨電子能量損失譜儀的應(yīng)用

EELS譜可做包括氫在內(nèi)的指紋鑒定,也可做表面結(jié)構(gòu)分析。在指紋鑒定時(shí)只要參照被分析原子的紅外吸收光譜,將電子能量損失譜跟紅外吸收譜進(jìn)行比較就能做出鑒定。

關(guān)于結(jié)構(gòu)分析,它所給出的信息是關(guān)于微區(qū)的,局域的,這與LEED不同,LEED所處理的問題是長(zhǎng)程有序表面的結(jié)構(gòu)。對(duì)樣品的破壞作用小,適合研究氣體在固體表面的吸附。而且對(duì)吸附有很高的靈敏度,可以對(duì)<0.1%單原子層的吸附做常規(guī)分析,這些分析包括化學(xué)物品在表面的吸附及吸附層在化學(xué)反應(yīng)過程中所產(chǎn)生的中間物的鑒定。

它的應(yīng)用包括研究固體上的催化反應(yīng),金屬表面的腐蝕等。


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